Fischerscope X-RAYXDL-B技术规格表

硬件 测量箱
● Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法:
● 原始射线从上至下:
● X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV:
● 单个0.3mm直径(12mils)的标准视准器,在附加费用的基础上可选择0.05*0.3mm(2*12mil)带槽视准器:或直径0.1mm;或直径0.2mm;或0.4*0.4mm方形。
● 测量箱外部尺寸:(高*宽*深)650mm*570mm*740mm(26″*22″*29″),重量大约为105kg(1201bs)
● 带槽箱体的内部尺寸:(高*宽*深)300mm*460mm*500mm(12″*18″*20″)带向上回转箱门
● 嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。
● 从X-射线头部(X-射线管,成比例的反射接收器及视准器)至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离(见背面)必须在定货时明确(标准设定:中间位置)
● 试件查看用彩色摄象机
● 带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体  

控制计算机

● 奔腾或类似的微处理器的个人计算机FMC-XPENT带Windows98(WindowsNT可选),视频混合器板,硬盘,CD-ROM驱动器,31/2英寸的软盘驱动器和鼠标。
● 17英寸高分辨能力的数据监视器DM1用于画中画试件查看和数据显示,在附加费用的基础上可选择19英寸监视器DM2。
● XK键盘  

FTM软件
● 适用于Windows98或WindowsNT的真Win32 位程序带在线帮助功能。
● 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。
● 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化
● 画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图象;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离,见背面)
● 图形化的用户界面,测试件的图象显示可插入于测试报告中
● 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2″)
● 测量模式用于:       
-单、双及三层镀层系统        -双元及三元合金镀层的分析和厚度测量        -双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)


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