德国FISCHER-X-射线镀层测厚及金属分析仪

    Fischerscope X-RAY System XDL是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样可以测量。它还采用独一的焦距距离计算办法(DCM),操作员现在可以随时改变焦距测量,对一些形状复杂的工件尤其方便。 Fischerscope X-RAY System XDL是采用技术标准ASTM B568,DIN 6098/,ISO3497的X-射线荧光分析法来进行测量,不但可以测量金属层的厚度及金属之间的比重金属物料分析, Fischerscope X-RAY System XDL的功能包括:特大及缺口式的测量箱,向下投射式X线射,方便对位测量,软件在视窗95下操作,可在同一屏幕清楚显示测量读数及工件的位置。 Fischerscope X-RAY System XDL的设计是专门测量金属镀层厚度的仪器,它是采用现时最新的软件及硬件技术而制成,计算方面用了最新的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能,X-RAY XDL已经可以在不使用标准片调校仪器之下,一样可以进行测量。
Fischerscope X-RAYXDL-B技术规格表 Fischerscope X-RAY XDL-B技术规格表 Fischerscope X-RAY XDL-B技术规格表

应用方面:
● 单性金属镀层厚度测量,例如:Zn;Cr;Cu;Ag;Au;Sn等等
● 合金(两样金属元素)镀层厚度测量,例如:Snpb;ZnNi;及Nip(无电浸线)在Fe上等等
● 合金(三样金属元素)镀层厚度测量,例如:AuCuCd在Ni上等等
● 双镀层厚度测量,例如:Au/Ni在Cu上;Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黄铜上等等
● 双镀层厚度测量(其中一层是合金层),例如:SnPb/Ni或Au/PdNi在青铜上等等
● 三镀层,例如:Cr/Ni/Cu在塑胶或在铁上
● 金属成份分析,最多可以分析四种金属元素 规格
● 主机---高650 mm,宽570 mm,深740 mm;重55kg
● 测量箱---高300 mm,宽460 mm,深500 mm
● 圆形准直器---Ф0.3 mm
● X-射线向下投射
● 主机上有直接测量键
● 可控制X-射线管高压,最高为50KV
● 黑白或彩色显示测量位置,焦距距离计算办法(DCM)最大焦距调节为85 mm
● 外置式电脑(Pentium或同级)及VGA彩色屏幕

特点:
● 测量厚度及金属分析
● 缺口式的测量箱,可以测量比较大平面的工件
● 使用DCM方法,不用调校X-射线管的距离也可测量用户只需要调校样品的焦距便可以测量

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