德国Fischerscope-X 射线镀层测厚仪

Fischerscope X-RAY XULM-XYm
(订货号603-132)
硬件
测量箱
Fischerscope X-REY XULM-XYm 是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568 的X-射线荧光测试方法;
原始射线从上至下;
微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50KV,40KV或30KV;
视准器组:圆直径为0.1/0.2;正方形0.05×0.05mm;长方形0.03×0.2mm
测量箱外部尺寸:(高×宽×深)480mm×375mm×580mm,重量大约35㎏;
带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240mm×360mm×460mm,带向上回转箱门;
试件查看用标准的彩色摄像机;
测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 控制计算机
奔腾或类似的微处理器的个人计算机FMC-XPENT带Windows?95,视频混合器板,硬盘,CD-ROM驱动器,3?英寸的软盘驱动器和鼠标。
17英寸高分辨能力的数据监视器DM1用于画中画试件查看和数据显示,在附加费用的基础上可选择19英寸监视器DM2。
XK键盘 FTM软件
适用于Windows?98或选择适用于Windows?NT的真Win32位程序带在线帮助功能。
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用。
能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准准块组成)使应用的校准简单化
画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像:计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)
图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中
测量模式用于:
—单、双及三层镀层系统
—双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
—双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)
能分析多达四种的金属成分的合金和电镀液中金属离子含量;
可编程的应用项图标,用于快速应用项选择
完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估
报告生成,数据输出
语言可选择:英语、德语、法语、意大利语、西班牙语、及中文
菜单中的某些选择可授权使用
注:基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用,所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时,可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块,则只可使用已预装的无需标准块的测量应用。
可选择的Super WinFTM软件(订货号602-950)提供了以下的附加功能:
可随意创建测量应用
可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度
快速的频谱分析以决定合金成分
(*)Fischer 公司不保证无需标准块测量情况下的测量精确性

测试点大小尺寸
视准器组Ⅰ 测试点大小
Φ0.1mm Ca. Φ0.16mm
Φ0.2mm Ca. Φ0.30mm
0.05×0.05mm Ca. 0.10×0.10mm
0.03×0.2mm Ca. 0.08×0.3mm
条件
产品原产地:德国
交货方式:C.I.P.温州(含税)
交货期:在收到30%定金后的12-14周
付款方式:电汇,30%定金,付清70%余款后发货
产品保用期:12个月
报价有效期:30天

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